Неге күн панелін электрлендіру жасырын ұяшықты ашады

Қысқа жауап: Күн панелін электрлендіріп, оның өз сәуле шығаруын суретке түсіру визуалды тексеру таба алмайтын ақауларды анықтайды. Электролюминесценциялық тестілеуде модульге ток жіберіледі, сондықтан ұяшықтар инфрақызыл жарық шығарады, ал камера бұл сәуле шығаруды шамамен 1150 нм толқын ұзындығында бейнелейді. Жарық, саусақтың үзілуі немесе нашар жанасқан дәнекерленген қосылыс қараңғы аймақ ретінде көрінеді, себебі онда азырақ ток ағады және азырақ жарық шығарылады. Бұл маңызды, өйткені бұл ақаулар көзге көрінбейді және қуат өлшеуінде жиі әрең байқалады: жарық ұяшығы бар модуль өзінің номиналды шығысына жақын өнімділікті сақтай алады, бірақ өсетін ақаулықты алып жүреді. Сондықтан EL тестілеу флэш-тестілеуді алмастырмай, онымен қатар жүреді — біреуі шығысты өлшейді, екіншісі шығыстың қайда жасырылғанын табады.

PV модуль өндірісі · Jerry, Ooitech

Зауыттан шығар алдында күн панельдері екі негізгі сапа тексеруінен өтеді. Біреуі – қарапайым визуалды тексеру. Екіншісі – бүгін біз айтып отырған нәрсе: қуатты қосу сынағы. Бұның техникалық атауы – EL сынағы. EL дегеніміз Электролюминесценция.

1. EL тестілеуінің ғылыми негізі

Кристалдық кремний күн ұяшығы негізінен PN-өткелді жартылай өткізгіш болып табылады. Оның екі бағытты фотоэлектрлік қасиеттері бар. Күнделікті қолданыста күн сәулесі панельге түсіп, фотоэлектрлік эффектті іске қосып, жарық энергиясын электр энергиясына айналдырады.

EL тестілеу бұл физикалық процесті керісінше айналдырады. Сыртқы қуат көзі модульге тура ток береді. Бұл ұяшыққа электрондар мен тесіктерді енгізеді. Бұл заряд тасымалдаушылар PN-өткелде қайта қосылып, фотондар түрінде энергияны босатып, электролюминесценция эффектін жасайды.

Міне, мәселе мынада. Кремний ұяшығы қуаттандырылғанда, ол шығаратын жарық инфрақызылға жақын, толқын ұзындығы шамамен 1100-1150нм. Бұл нақты диапазон адам көзінің көру қабілетінен толығымен тыс. Біз бұл жарықты мүлдем қабылдай алмаймыз. Модуль толық қуаттандырылып, жарқырап тұрса да, жай көзге ол қарапайым шыны бөлігі сияқты көрінеді. Сіз ешқандай жарық немесе қараңғы үлгілерді көрмейсіз.

Сондықтан тек қуат беру жеткіліксіз. Біз арнайы инфрақызыл бейнелеу камераларына сүйенуіміз керек. EL жабдығы инфрақызылға сезімтал CMOS немесе CCD камераларды IR сүзгілерімен бірге пайдаланады. Олар толық қараңғы ортада ұзақ экспозициялық суреттерді түсіреді. Бұл қондырғы көрінбейтін инфрақызыл сигналдарды мониторда анық ақ-қара суреттерге айналдырады.

2. Неліктен EL тестілеу қажет?

Мұны күн панельдеріне арналған КТ сканері деп ойлаңыз. Сырттан көре алмайтын ақаулар EL тесті арқылы айқын көрінеді. Бірнеше кең таралған EL ақауларын қарастырайық: микро-жарықтар, суық дәнекерлеу және сынған тор сызықтары.

Микро-жарықтар:Бұл механикалық кернеуден кремний корпусында пайда болатын микро-жарықтар. ұяшық толығымен жарылып кетпеген, сондықтан беті жақсы көрінеді. Бірақ кристалл торы қазірдің өзінде жарылған. Бұл кремний негізіне нақты зақым болғандықтан, EL камерасы оны оңай байқайды. EL кескінінде микро-жарық айқын қара сызық ретінде көрінеді.

Суық дәнекерлеу:Бұл дәнекерлеу таспасы мен ұяшықтың негізгі шинасы арасында жақсы қорытпа байланысы қалыптаспаған кезде болады. Олар механикалық түрде жанасады, бірақ электрлік байланыс әлсіз. EL кескіндерінде суық дәнекерлеу жергілікті қара дақтар немесе қара сызықтар ретінде көрінеді. Сіз оларды әдетте тор сызықтарының бойымен, тұрақты емес, үзілген қара сызықтар немесе нүктелі дақтар ретінде көресіз.

Сынған тор сызықтары:Кейде ұяшықтағы жұқа күміс тор сызықтары сынады. Бұл болғанда, ток жинау жолы үзіледі. Бұл әрдайым дерлік шикізат ақауы. Сіз оны EL сканерінде негізгі шинаға перпендикуляр өтетін қара немесе қараңғы аймақтар ретінде байқай аласыз.

Шамамен 15 жыл бұрын сатып алушылар EL тексерулерін сирек сұрайтын. Бүгінде бұл панельдерді жөнелту үшін міндетті шарт, желіде 100% қуатпен тексеріледі. Микро-жарықтар, суық дәнекерлеу және сынған торлар модульдің қуат шығысын айтарлықтай төмендетіп, оның ұзақ мерзімді сенімділігін бұзады.

Ooitech көзқарасы

Сапаны бақылау жабдықтары заманауи жоғары тиімді ұяшық архитектураларына, мысалы, TOPCon және HJT-ге сәйкес келу үшін айтарлықтай дамыды. Панельдерді EL сынақ құрылғыларынан өткізу енді тек ақауларды анықтау үшін емес; бұл жоғары ағындағы таббер стрингер және жасалады. параметрлерін нақты уақытта дәл реттеу үшін қажет. Қайталанатын механикалық кернеу мәселелерін болдырмау үшін EL деректері өндіріс желісінің негізгі басқару жүйесіне тікелей қайтарылғанда, зауыттың өнімділігі айтарлықтай артады.